博客
研发试验
连山:理想自研SiC芯片生产幕后的'数据军师'
追溯分析每颗芯片,数据驱动良率提升
生产效能
EHS智能监测:安全管理新范式
实时识别16+高风险场景,构建全自动风控体系
研发试验
从试验自动化到零件耐久提升
真实工况驱动验证,实现研发全过程标准对齐
质量检验
NVH技术破解电驱异响定位难题
准确率达100%,减少300万索赔成本
质量检验
突破传统算法可行边界:实时拧紧曲线监控
单车间每日识别异常超200次,年拦截超5万件
质量检验
AOI✖️AI:更快更省更准
复核率从85%降至2%,每年节省千万级成本