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连山：理想自研SiC芯片生产幕后的'数据军师' - Cover Image
研发试验
连山：理想自研SiC芯片生产幕后的'数据军师'

追溯分析每颗芯片，数据驱动良率提升

2025年10月11日 · 1 分钟阅读时间
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从试验自动化到零件耐久提升 - Cover Image
研发试验
从试验自动化到零件耐久提升

真实工况驱动验证，实现研发全过程标准对齐

2025年9月12日 · 1 分钟阅读时间
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自动化试验：基于数据找到VTS最优解 - Cover Image
研发试验
自动化试验：基于数据找到VTS最优解

缩短试验周期，数据驱动性能提升

2025年9月5日 · 1 分钟阅读时间
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