连山：理想自研SiC芯片生产幕后的'数据军师'

追溯分析每颗芯片，数据驱动良率提升

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从试验自动化到零件耐久提升

真实工况驱动验证，实现研发全过程标准对齐

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自动化试验：基于数据找到VTS最优解

缩短试验周期，数据驱动性能提升

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